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頭掃描原子力顯微鏡

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頭掃描原子力顯微鏡

FM-Nanoview LS-AFM

 

 國內首家實現樣品保持不動,探針移動掃描的商業化原子力顯微鏡

 樣品尺寸、重量幾乎不受限制,特別適合超大樣品檢測

 樣品臺可拓展性強,非常便于進行多儀器聯用實現原位檢測;

 電動控制樣品移動臺和升降臺可任意編程多點位置實現快速自動化檢測;

 龍門架式掃描頭設計,大理石底座,真空吸附和磁性吸附式載物臺
 馬達自動控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式,保護探針及樣品
 高倍輔助光學顯微定位,實時觀測與定位探針以及樣品掃描區域

 集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優于98%



技術參數

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應用案例

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